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  • 審核中

    會議時間:10月15日 09:00 -- 10月16日 18:00

    大會介紹

    為面對國際、國內新形勢,國家密集出臺各項政策、措施,推動中國半導體產業高質量發展。8月,國務院印發《新時期促進集成電路產業和軟件產業高質量發展的若干政策》,明確提出鼓勵半導體材料和裝備產業。中國是全球第一大半導體市場、第二大半導體設備市場、第三大半導體材料市場。繁榮的市場和國家扶持政策,將促進半導體產業鏈轉向國內, 進一步催生國內半導體行業實現自主可控的大潮,開啟半導體材料國產化黃金期。中國半導體產業的發展,依賴于半導體材料(硅和先進半導體材料、特種氣體、光刻膠、封裝材料等)和半導體器件的研究和發展,同樣也離不開儀器設備、分析檢測方法和標準的支撐。中國科學院半導體研究所、儀器信息網擬于2020年10月15日-16日聯合主辦首屆“半導體材料與器件研究與應用”網絡會議(i Conference on Research and Application of Semiconductor Materials and Devices, iCSMD 2020)”,聚焦半導體材料與器件的產業熱點方向,組織2天的專業學術交流。本次網絡會議旨在利用互聯網技術,為國內廣大半導體材料與器件研究、應用及檢測的相關工作者提供一個突破時間地域限制的免費學習平臺,讓大家足不出戶便能聆聽到相關專家的精彩報告。


    主辦單位:中國科學院半導體研究所 儀器信息網

    會議日程

    我要參會 10月15日 半導體材料研發、應用及分析檢測技術(上)
    • 09:00--09:30 鈣鈦礦納米材料與SPP激光器 王智杰 中國科學院半導體研究所 研究員
    • 09:30--10:00 賽默飛色譜質譜產品在半導體行業中的的應用 鐘新林 賽默飛世爾科技 應用專家
    • 10:00--10:30 PerkinElmer在半導體制程中的檢測方案 華瑞 珀金埃爾默企業管理(上海)有限公司 技術專家
    • 10:30--11:00 半導體材料生產與工藝質量監控的先進技術進展 黃鶴 布魯克(北京)科技有限公司 應用經理
    • 11:00--11:30 梅特勒-托利多公司半導體行業檢測方案 李玉琪 梅特勒-托利多 產品專員
    • 11:30--12:00 InP基光子集成材料與器件及標準代工平臺 趙玲娟 中國科學院半導體研究所 研究員
    • 12:00--13:30 午休 中午休息 全體參會人員
    • 13:30--14:00 Si基GaN材料的MOCVD外延生長及雜質缺陷研究 楊學林 北京大學 高級工程師
    • 14:00--14:30 陰極發光成像技術的發展及其在表征半導體材料研究中的應用 Sangeetha Hari 荷蘭Delmic公司 應用專家
    • 14:30--15:00 電子級水在半導體行業中的應用及解決方案 李子超 默克化工技術(上海)有限公司 高級應用專家
    • 15:00--15:30 日立電子顯微鏡在半導體分析中的應用 周鷗 日立高新技術(上海)國際貿易有限公司 經理
    • 15:30--16:00 半導體納米材料原子尺度結構性能關系的透射電子顯微學研究 李露穎 華中科技大學武漢光電國家研究中心 副教授
    • 16:00--16:30 掃描探針技術在半導體材料及器件表界面分析中的應用 謝偉廣 暨南大學 教授
    我要參會 10月16日 半導體材料研發、應用及分析檢測技術(下)
    • 09:30--10:00 氧化鎵基半導體器件研究進展 劉文軍 復旦大學 青年研究員
    • 10:00--10:30 高純半導體材料的無機元素分析 應鈺 安捷倫科技(中國)有限公司 原子光譜應用工程師
    • 10:30--11:00 HORIBA Scientific多種分析技術在半導體材料表征中的應用 熊洪武 HORIBA Scientific 工業銷售經理
    • 11:00--11:30 半導體光電子外延材料國產化 羅帥 江蘇華興激光科技有限公司 總經理
    我要參會 10月16日 半導體器件研發、應用及分析檢測技術
    • 13:30--14:00 雙模微腔激光器及其應用 黃永箴 中國科學院半導體研究所 研究員
    • 14:00--14:30 硅光通信與互連:一種變革性的技術 楊林 中國科學院半導體研究所 研究員
    • 14:30--15:00 半導體微納加工中的硅干法刻蝕技術 王曉東 中國科學院半導體研究所 研究員
    • 15:00--15:30 電子束曝光及相關技術的研究 韓立 中國科學院電工研究所 副所長
    • 15:30--16:00 半導體產業現狀及相關檢測技術進展 席善斌 國家半導體器件質量監督檢驗中心 副主任
    • 16:00--16:30 硅基III-V族光電器件及其缺陷的表征 樊士釗 中國科學院蘇州納米技術與納米仿生研究所 項目研究員

    參會指南

    一、報名貼士(敷衍填寫將不予審核)

    • 1、請認真填寫各項,您的手機號為您的參會憑證。

    • 2、報名后,參與直播可獲取會后資料、加交流群。

    二、參會方式(手機電腦均可參會)

    • 1、直播前一天,助教會統一審核。審核通過后,會發送參會鏈接給報名手機號。

    • 2、如無法正常參會,請“備注會議題目”加【微信wljt-02】,幫您解決。

    三、會議資料(交流群,會后視頻)

    • 1、報名并參與直播可與專家問答交流。會議群會在直播當天展示,會議ppt無法提供。

    • 2、關注【儀器信息網微服務】,微信提醒會議進度,便捷查閱近期會議及視頻回放。

    • 3、下載【儀器信息網app】,獲得會后回放視頻、免費下載10萬篇標準、獲得實驗室操作實戰寶典等精品資料。

    聯系我們

    聯系人:管先生

    電話:17862992005

    手機:17862992005(微信同號)

    Email:guancg@instrument.com.cn

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