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    HORIBA SZ-100 V2 納米顆粒分析儀

    核心參數

    • 產地類別 進口
    • 測量時間2min
    • 分辨率
    • 測量范圍0.3nm ~ 10μm
    • 重現性+-2%
    • 分散方式 濕法分散
    • 儀器種類 動態光散射

    HORIBA 科學儀器事業部 查看聯系方式

    • 營業執照已審核
    • 品牌性質生產商
    • 白金會員第19年
    • 信用積分4451
    • 反饋速度21-24小時
    • 同類儀器3臺
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    HORIBA SZ-100 V2 納米顆粒分析儀 產品介紹 相關資料 相關新聞 用戶評論

    產品介紹

    SZ-100 V2 納米顆粒分析儀是準確測量小顆粒物理性質的分析工具,如顆粒粒徑、zeta電位的檢測,分子量(Mw)以及第二維利系數(A2)的測定;還可以用于檢測蛋白質、聚合物及其他大分子的分子量和第二維利系數。


    SZ-100 V2納米顆粒分析儀典型應用包括:納米顆粒,膠體,乳液以及亞微米懸浮液。


    產品特點


    ·  同臺儀器可測三種參數——粒度、zeta電位、分子量及第二維利系數

    ·  寬檢測范圍,寬濃度范圍——樣品濃度可達40%

    ·  自動滴定儀——可用于zeta電位測量過程中pH值的自動滴定

    ·  軟件操作簡單功能強大,一鍵測量

    ·  雙光路雙角度粒徑測量(90° 和173°)

    ·  采用微量樣品池


    技術參數


    粒徑測量原理:動態光散射法(光子相關光譜法)

    粒徑測定范圍:0.3nm ~10μm

    粒徑測量精度:±2%(NIST 可溯源標準粒子100nm)

    Zeta 電位測量原理:激光多普勒電泳法

    Zeta 電位測量范圍:-500 mV ~ +500 mV

    分子量測量原理:Debye plot

    分子量測量范圍:1000 ~ 2×107 Da

    測量角度:90° 和173°(可自動或手動選擇)

    樣品量:12μL ~ 1000μL

    HORIBA SZ-100 V2 納米顆粒分析儀信息由HORIBA 科學儀器事業部為您提供,如您想了解更多關于HORIBA SZ-100 V2 納米顆粒分析儀報價、型號、參數等信息,歡迎來電或留言咨詢。

    注:對于醫療器械類產品,請先查證核實企業經營資質和醫療器械產品注冊證情況。

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